bet188体育appPCB电路板高压加速寿命试验


为确保PCB电路板长时间使用的质量与可靠度,很多PCB电路板制造厂家都进行SIR(SurfaceInsulationResistance)表面绝缘电阻的试验,透过其试验方式找出PCB是否会发生MIG(离子迁移)与CAF(玻纤纱阳极性漏电)现象,离子迁移与是在加湿状态下(如:85℃/85%R.H.),施加恒定偏压(如:50V),离子化金属向相反电极间移动(阴极向阳极生长),相对电极还原成原来的金属并析出树枝状金属的现象,常造成短路,离子迁移非常脆弱,在通电瞬间产生的电流会使离子迁移本身溶断消失。

试验时间通常一次就是1000h、2000h,对于产品的周期性来说缓不应急,而HAST是一种试验手法也是设备名称,HAST高压加速寿命试验机是提高环境应力(温度&湿度&压力),在不饱和湿度环境下(湿度:85%R.H.)加快试验过程缩短试验时间,用来评定PCB压合&绝缘电阻,与相关材料的吸湿效果状况,缩短高温高湿的试验时间(85℃/85%R.H./1000h→110℃/85%R.H./264h),